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日本電子 JEOL 掃描電鏡 SEM 鎢燈絲
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JEOL JSM-6010 掃描電子顯微鏡/掃描電鏡 JSM-6010系列InTouchScope觸控式電子顯微鏡JSM-6010LA / JSM-6010LV是一款高效能、操作容易、高效率的電子顯微鏡。全新設計的InTouchScope操作界面,即便是初次使用儀器的人員也能輕松上手。面對越來(lái)越多元化的操作環(huán)境需求,JSM-6010的操作設計,能讓您更輕松、有效率的使用儀器。
JSM-7610F熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡的光學(xué)系統經(jīng)過(guò)改進(jìn),實(shí)現了分辨率(15kV 0.8nm、1kV 1.0nm)的進(jìn)一步提升,以嶄新的JSM-7610FPlus形象亮相。采用半浸沒(méi)式物鏡和High Power Optics照明系統,能提供穩定的高空間分辨率觀(guān)察和分析。此外還具備利用GENTLEBEAMTM模式進(jìn)行低加速電壓觀(guān)察、通過(guò)r-filter分選信號等滿(mǎn)足各種需求的高擴展性。
JSM-IT200 InTouchScope™ 是一款更簡(jiǎn)潔、更易于使用且性?xún)r(jià)比高的掃描電子顯微鏡。凝聚了日本電子50年來(lái)的SEM技術(shù)精華,外形設計緊湊。新開(kāi)發(fā)的標準機型,不僅保持了InTouchScope系列*的可操作性,還擁有能與Gao端機型相媲美的可擴展性,應用范圍可涵蓋 以生物技術(shù)和納米技術(shù)為首的包括材料開(kāi)發(fā)、測試、評估和缺陷分析及質(zhì)量控制等廣泛領(lǐng)域。
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